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National Semiconductor Corporation
Industry: Semiconductors
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National Semiconductor Corporation designs, develops, manufactures, and markets analog and mixed-signal integrated circuits and sub-systems.
燒傷中 (即,暴露在高溫度電氣偏應用) 為延長有效期 (通常在 125 ° C 的一千小時) 執行。通常樣品測試。
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分離的電路元件半導體器件通過建設的一種屏障氧化物之間的元素 (不與介質隔離,隔離傳遞完全根據電路元素相混淆。
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積體電路、 半導體晶片的尺寸,單位面積的元素的數目經常表示門等效項的數目。
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測試的設備的數量在同一時間 (通常通過在介面與測試儀的印刷電路板上安裝的設備來實現) 而不串列測試的一次測試一個設備。
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擴散的電路元件之間的相互作用。A 的寄生蟲有很好的例子將電晶體和關聯的收藏家向基體交界處的電容的收集器系列電阻 (RSAT)。事實上,埋層 N + 擴散用來減少收集器阻力。的當前性質半導體技術使不可能消除這些引起的寄生現象。在其對電路的影響是重大的或當電路設計,利用這些寄生效應,它們顯示在原理圖上。
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氣體或液體的清潔,每立方英尺部分通常表示測量比例。例如,類 10 工作區將一個載有不超過 10 粒子大於一微米的大小每立方英尺的空氣。
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模具 (通常熱生長二氧化矽,Si02) 通過哪些連絡人和擴散打開 windows 的表面塗層。
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設備如電阻器或電容器有沒有放大或控制項的特性。
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在哪個 MOS 電晶體通過橋接擴散兩個相鄰 P 型 (源和排水管) 用電介質 (門) 形成的 MOS 過程。源和基體都接地和一個負電壓應用於門,正電荷 (P-通道) 導電片材時是在表面下電介質基體中創建的。
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很多,可能會 100%篩選步驟失敗沒有拒絕該地段的最大百分比。PDA 預計可能會出現在很多異常的高百分比的失效機理可能出現在以後的時間,在該地段的平衡。它應,因此,不能用於的螢幕哪裡可以觀察到和 (如內部視覺或 x 射線) 中刪除所有有缺陷的設備。
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